貝克曼庫爾特隆重推出新一代激光衍射粒度分析儀

LS 13 320 XR ——提供快速、準(zhǔn)確和可再現(xiàn)的顆粒粒度分析

中國，上海 —— 2018年10月8日訊 ——貝克曼庫爾特生命科學(xué)事業(yè)部推出新一代激光衍射粒度分析儀LS 13 320 XR，以滿足制藥和工業(yè)領(lǐng)域質(zhì)量控制和研究應(yīng)用的嚴(yán)苛要求。

貝克曼庫爾特公司已有數(shù)十年顆粒表征分析的歷史。作為顆粒產(chǎn)品的重要一員，多波長PIDS專利技術(shù)（專利號(hào)：4953978；5104221）的激光衍射粒度分析儀LS系列一直是業(yè)內(nèi)的翹楚。

  準(zhǔn)確測(cè)量細(xì)微差異

新一代LS 13 320 XR是一款全自動(dòng)、高準(zhǔn)確性、高分辨率、高重現(xiàn)性以及操作極簡的干濕兩用粒度分析儀。其采用專利設(shè)計(jì)的X型對(duì)數(shù)排布的檢測(cè)器陣列，可準(zhǔn)確記錄散射光強(qiáng)信號(hào)，獲得真實(shí)準(zhǔn)確的粒度分布。而132枚檢測(cè)器更能清晰地區(qū)分不同粒度等級(jí)間散射光強(qiáng)譜圖的差異，無需預(yù)估樣品峰型，無需選擇分析模型，便可輕松準(zhǔn)確分析多峰樣品，粒徑測(cè)量范圍從10 納米至3,500 微米。

  準(zhǔn)確測(cè)量納米顆粒

在亞微米范圍，為了從根本上解決傳統(tǒng)方法對(duì)亞微米顆粒光強(qiáng)譜圖差異區(qū)分差的難點(diǎn)，LS 13 320 XR采用偏振光強(qiáng)度差散射（PIDS）專利技術(shù)來分析多波長和多偏振下的樣品，不僅可以真正實(shí)現(xiàn)小至10納米的顆粒測(cè)量，而且還可以直接檢測(cè)亞微米范圍內(nèi)的多峰分布，獲得亞微米范圍內(nèi)更高的分辨率和準(zhǔn)確性。

  極簡操作

ADAPT操作軟件，不僅界面更加直觀，而且增加了觸摸屏技術(shù)，非常易于使用，無需操作經(jīng)驗(yàn)，簡單三步輕松獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。醒目的導(dǎo)航輪，僅需一步便可完成數(shù)據(jù)的顯示和導(dǎo)出。而為了更迅速的了解樣品質(zhì)量情況，軟件可自動(dòng)對(duì)測(cè)量結(jié)果標(biāo)注綠色或紅色，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)合格/不合格管理，直接質(zhì)控。