蔡司全新RISE（SEM-Raman關(guān)聯(lián)）系統(tǒng)隆重上市

近期，蔡司在北京正式發(fā)布了全新Sigma300-RISE關(guān)聯(lián)顯微鏡系統(tǒng)。作為一家擁有170多年歷史且專注于顯微技術(shù)研發(fā)的企業(yè)，蔡司從未停止其與科研俱進(jìn)的腳步。
 
與德國(guó)Witec公司合作，蔡司對(duì)共焦Raman顯微鏡系統(tǒng)進(jìn)行了改進(jìn)，實(shí)現(xiàn)了快速Raman成像（Fast Raman Imaging），并成功將其集成到現(xiàn)有的SEM平臺(tái)上，實(shí)現(xiàn)了關(guān)聯(lián)SEM-EDS-Raman成像分析能力。至此，繼EDS，EBSD, CL, EBL等各種分析與材料改性功能后，蔡司SEM平臺(tái)的新家族成員 – RISE（Raman Imaging Scanning Electron Microscope）,即關(guān)聯(lián)SEM-Raman顯微鏡系統(tǒng)的加入，為您的科研提供了全方位的解決方案。
   
作為全新的關(guān)聯(lián)分析解決方案，蔡司Sigma300-RISE系統(tǒng)不僅能夠?qū)崿F(xiàn)FESEM和傳統(tǒng)共焦Raman分析的所有功能，同時(shí)還帶來了更為高效而強(qiáng)大的分析能力：
 

• 基于蔡司獨(dú)特Gemini技術(shù)的高分辨、高兼容性FESEM
• 基于蔡司高性能光學(xué)顯微鏡Axio Scope的共焦Raman顯微鏡
• 快速的2D和3D Raman成像，與傳統(tǒng)Raman Mapping相比極大地提升了成像速度
• SEM, EDS, Raman圖像的位置關(guān)聯(lián)與重合，實(shí)現(xiàn)真正的原位多角度分析

 
先進(jìn)的一體化設(shè)計(jì)保證了整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定性，在測(cè)試過程中樣品始終處于SEM腔室中，同時(shí)快速的原位關(guān)聯(lián)技術(shù)保證了測(cè)試的精確性與高效性，從而使蔡司SEM-RISE關(guān)聯(lián)顯微鏡系統(tǒng)能夠廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)（納米材料，二維材料，高分子材料，碳材料，生物材料研究等），半導(dǎo)體，地質(zhì)，礦物分析，生命科學(xué)，制藥，能源等領(lǐng)域。
 
應(yīng)用案例：

• 對(duì)大腸桿菌的分析

RISE對(duì)大腸桿菌的分析，從中可以區(qū)分出大腸桿菌，Si以及其他一些無定形物質(zhì)的分布
 

• 有機(jī)聚合物的相分離

通過蔡司Gemini優(yōu)秀的低電壓成像技術(shù)對(duì)PMMA/PS聚合物進(jìn)行成像，并使用關(guān)聯(lián)共焦Raman顯微鏡對(duì)PMMA和PS兩種成分進(jìn)行區(qū)分。
 

• 二維材料的表征

通過SEM與Raman成像的關(guān)聯(lián)實(shí)現(xiàn)對(duì)不同層數(shù)石墨烯的表征，以及石墨烯層間扭曲角度的分辨
 

• Li離子電池研究

SEM-EDS-Raman共同關(guān)聯(lián)，對(duì)Li離子電池的正負(fù)極材料，以及電池隔膜在電池老化過程中的變化進(jìn)行分析
 

• 礦物分析

對(duì)鐵礦石中不同礦物相的分離，以及對(duì)同一礦物不同相晶體取向的表征
 
目前，蔡司Sigma300-RISE關(guān)聯(lián)顯微鏡系統(tǒng)已經(jīng)在蔡司北京客戶中心安裝完成并投入使用，歡迎各位老師蒞臨交流。
 
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