濱松邀您參加第二屆質(zhì)譜儀器研發(fā)論壇

第二屆質(zhì)譜儀器研發(fā)論壇將于2019年10月10日-12日在江蘇昆山舉辦，本屆會(huì)議由中國(guó)儀器儀表學(xué)會(huì)分析儀器分會(huì)質(zhì)譜儀器學(xué)術(shù)組主辦，分析測(cè)試百科網(wǎng)協(xié)辦，昆山禾信質(zhì)譜技術(shù)有限公司承辦。屆時(shí)將有眾多質(zhì)譜研發(fā)領(lǐng)域資深專家與會(huì)，共同討論質(zhì)譜核心技術(shù)的創(chuàng)新開(kāi)發(fā)及應(yīng)用問(wèn)題。

濱松中國(guó)將出席本次會(huì)議，并發(fā)表“質(zhì)譜探測(cè)新技術(shù)，為質(zhì)譜儀研發(fā)帶來(lái)更多可能”的報(bào)告（10月11日，15:45-16:00）。報(bào)告將介紹本年ASMS中發(fā)布的濱松應(yīng)用于質(zhì)譜分析儀器的探測(cè)技術(shù)動(dòng)向，以及產(chǎn)品升級(jí)和最新應(yīng)用信息，其中包括了高氣壓下（達(dá)1Pa）仍可高增益正常工作的柵網(wǎng)陽(yáng)極結(jié)構(gòu)MCP、大幅縮短TOF-MS（MALDI）前處理時(shí)間的無(wú)基質(zhì)輔助電離基板（DIUTHAME）、復(fù)合雪崩二極管結(jié)構(gòu)的MCP、通道式電子倍增器（CEM）。

濱松擁有65年光電探測(cè)器的研制經(jīng)驗(yàn)，享譽(yù)世界，在質(zhì)譜用探測(cè)器技術(shù)的耕耘也已有40年的歷史，可為質(zhì)譜提供離子化光源、電子倍增器（EM）、微通道板（MCP）等產(chǎn)品。此次會(huì)議，濱松將在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行包括新品在內(nèi)的多類系列產(chǎn)品的展示，歡迎屆時(shí)蒞臨展位參觀與交流。