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PlantScreen高通量表型組學(xué)平臺研究葉片衰老

瀏覽次數(shù):1082 發(fā)布日期:2020-6-28  來源:北京易科泰生態(tài)技術(shù)有限公司

韓國大邱基礎(chǔ)科學(xué)研究所Jeongsik Kim、Pyung Ok Lim等,利用PlantScreen大型高通量表型組學(xué)研究平臺,對植物葉片衰老進(jìn)行了系列研究(參見論文:Jae IL Lyu etc. 2017. High-throughput and computational study of leaf senescence through a phenomic approach. Frontiers in Plant Science):

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研究綜合利用了平臺的葉綠素?zé)晒獬上、VNIR高光譜成像、SWIR高光譜成像、RGB成像、紅外熱成像等高通量表型分析技術(shù)及系統(tǒng)提供的葉片跟蹤分析功能(leaf tracking analysis),在線采集分析了150個表型性狀參數(shù),包括四十多個葉綠素?zé)晒鈪?shù)、近百個高光譜植物光譜反射指數(shù)參數(shù),全面研究分析了擬南芥葉片生活周期及衰老表型組學(xué)。


易科泰生態(tài)技術(shù)公司提供植物表型組學(xué)全面技術(shù)方案:

1)FluorPen手持式葉綠素?zé)晒鈨x、PlantPen/PolyPen手持葉夾式高光譜儀,提供方便實(shí)用、功能全面的手持式葉片水平(leaf-level)表型測量技術(shù)和監(jiān)測技術(shù)

2)便攜式葉綠素?zé)晒獬上、高光譜成像、紅外熱成像、光合作用與葉綠素?zé)晒獬上駨?fù)合系統(tǒng),為大田作物表型組學(xué)研究提供方便實(shí)用、功能全面的便攜式葉片水平和冠層水平表型測量技術(shù)

3)實(shí)驗(yàn)室臺式表型成像分析系統(tǒng)、作物種質(zhì)資源檢測系統(tǒng),F(xiàn)luorCam葉綠素?zé)晒獬上、高光譜成像、紅外熱成像、RGB成像等表型分析全面技術(shù)方案

4)大型高通量植物表型系統(tǒng)集成方案/PlantScreen表型分析平臺

a)FluorCam葉綠素?zé)晒獬上窦夹g(shù),國際植物生理功能表型分析主流技術(shù)

b)多光譜熒光成像分析技術(shù),多激發(fā)光、多光譜熒光,初級代謝、次級代謝表型組學(xué)研究

c)VNIR高光譜、SWIR高光譜成像分析技術(shù)

d)RGB 3D形態(tài)結(jié)構(gòu)與顏色成像分析

e)高分辨率紅外熱成像分析

f)3D激光掃描分析

g)高通量根系分析

h)自動澆灌與稱重

5)野外大田表型分析技術(shù)

a)Thermo-RGB紅外熱成像與RGB成像融合技術(shù)

b)Specim高光譜成像技術(shù)

c)Ecodrone®無人機(jī)遙感與近地遙感技術(shù)

d)PhenoPlot輕便型表型分析系統(tǒng)

e)SpectraScan大型高通量表型分析平臺

來源:北京易科泰生態(tài)技術(shù)有限公司
聯(lián)系電話:13718717100
E-mail:sales@eco-tech.com.cn

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