飛納電鏡MAPS的不同視角SEM表征與數(shù)據(jù)分析

飛納電鏡持續(xù)創(chuàng)新  系列一
01
“你這個位置是哪里拍的？其他位置什么情況？整個樣品上裂紋的走勢是什么樣的？”
作為失效工程師，收到老板或同事的靈魂拷問，是不是常常讓你頭疼？

02
“你這個太局部了，不具有代表性，其他位置什么情況？”
明明是供應(yīng)商產(chǎn)品的問題，但強勢的甲方的詭辯總讓你無奈不已？

03
“小張，我要整個組織切片的全貌，請確保拍下來。”
導師的要求太天真，臣妾做不到？
別擔心，飛納電鏡 MAPS 系統(tǒng)幫你解決這些問題！

2024 年，飛納發(fā)布數(shù)據(jù)采集及閱讀系統(tǒng) Phenom MAPS。該系統(tǒng)不僅徹底革新了數(shù)據(jù)存儲的方式，還為 SEM 表征與數(shù)據(jù)分析開啟了“上帝視角”，幫您輕松掌握每一個細節(jié)，不再需要費力解釋。

今天，我們來詳細了解一下這款為科學家們提供“上帝視角”的飛納電鏡 MAPS 系統(tǒng)。

No.1 ：多圖層數(shù)據(jù)采集及閱讀系統(tǒng)
“人如其名”，MAPS 是地圖的意思，該系統(tǒng)會像百度地圖一樣，通過層級的方式，實現(xiàn)對樣品的拍攝與數(shù)據(jù)回看。Phenom MAPS 提供的是一個涵蓋所有樣品信息的數(shù)碼存檔，從全面（宏觀）到具體（微觀）無所不包，徹底變革了傳統(tǒng)掃描電鏡的分析與數(shù)據(jù)存儲模式。并且，多圖層數(shù)據(jù)可以包含能譜。
 

No.2 ：大面積成像拼接，完全無痕！
大面積成像拼接，完全無痕

No.3：大面積能譜分析，地質(zhì)行業(yè)zui愛！
這里是一個地質(zhì)樣品的能譜拼圖結(jié)果，Phenom MAPS 可以實現(xiàn)對整個樣品的能譜采集，導出任意拼接的原始能譜數(shù)據(jù)，以方便進行離線分析。

No.4 ：CISA，關(guān)聯(lián)一切可視化圖片
光鏡、拉曼、紅外、XPS，甚至 CAD 或手繪草圖，通通可以關(guān)聯(lián)。下圖案例：通過 MAPS CISA，將 SEM 和 XPS 面分布以及全譜分析的功能相結(jié)合，分析多孔砂粒子的表面組成和形貌。
 

通過結(jié)合 XPS 和 SEM 的分析，可以精確地將化學信息與顯微鏡提供的高分辨率結(jié)構(gòu)信息融合。CISA 關(guān)聯(lián)工作流程尤其適用于研究電池、高分子材料、催化劑和金屬等樣品的材料研究。

總結(jié)
飛納電鏡 MAPS 系統(tǒng)不僅是一個自動化的圖像、能譜采集工具，更是一個數(shù)碼存檔和關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)分析平臺。通過地圖化的多層級掃描電鏡和能譜數(shù)據(jù)采集及關(guān)聯(lián)系統(tǒng)，為您提供多模態(tài)的“上帝視角”，全面掌握顯微鏡數(shù)據(jù)，不再錯過任何細節(jié)。