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飛納掃描電鏡超景深成像模式原理介紹及樣品細(xì)節(jié)效果對比圖

瀏覽次數(shù):306 發(fā)布日期:2024-7-2  來源:本站 僅供參考,謝絕轉(zhuǎn)載,否則責(zé)任自負(fù)

掃描電鏡作為一種基礎(chǔ)顯微成像工具,因具有超高的放大能力,從而被高校、科研院所、材料研發(fā)和質(zhì)量分析部門廣泛用于研發(fā)、生產(chǎn)過程。

相比于光學(xué)放大器件,掃描電子顯微鏡使用電子束進(jìn)行成像,放大、分辨能力比光學(xué)顯微鏡有非常大的提升。

 

圖 1 金相樣品光學(xué)顯微鏡圖像 (左) 和掃描電鏡圖像 (右)
圖 1 金相樣品光學(xué)顯微鏡圖像 (左) 和掃描電鏡圖像 (右)


景深是一種普適用于所有的光學(xué)成像儀器的概念。所謂景深,就是照片中清晰圖像的范圍,景深越大,我們看到的視野中清晰的范圍就越大,或稱景深分辨能力強(qiáng);反之,景深越。\),視野范圍中能夠清晰的范圍越狹小,成像器材的景深分辨能力越弱(圖2)。
 


圖 2 小景深和大景深


光學(xué)元件中,只有一個參數(shù)會直接影響景深分辨能力,那就是光束的收斂角的大或小。光束到達(dá)焦點(diǎn)后,收斂角越小,其得到的景深越深,例如在照相機(jī)中,光圈直徑的減小會直接將收斂角減小,景深則越深(如圖 3)。
 


圖 3 照相機(jī)中光圈對景深的影響示意圖


與光學(xué)顯微鏡相比,掃描電鏡的成像介質(zhì)(電子束)的匯聚性非常好,因此到達(dá)樣品表面的電子束收斂角通常非常小,因而電鏡的景深分辨能力往往比光學(xué)顯微鏡強(qiáng)(圖4)。
 

掃描電鏡 (右) 明顯比光學(xué)顯微鏡 (左) 具有更好的景深分辨能力
圖 4 掃描電鏡 (右) 明顯比光學(xué)顯微鏡 (左) 具有更好的景深分辨能力


但是,我們也同樣需要明確,掃描電鏡的景深分辨能力并非無限大。在遇到一些極其特殊的樣品時,比如幾乎垂直放置的多層膜材料(圖 5),即使是掃描電鏡也難以表現(xiàn)其全部細(xì)節(jié)。
 

近乎垂直放置的多層膜材料截面
圖5 近乎垂直放置的多層膜材料截面


Phenom 飛納電鏡為了應(yīng)對這一問題,開發(fā)了獨(dú)有的超景深成像模式。在該模式下,掃描電鏡可以根據(jù)樣品景深進(jìn)行全視野掃描,并自動計算視野所有位置上可以獲得最清晰圖像的工作距離,隨后連續(xù)自動曝光,最終得到理論景深無限制的掃描電鏡圖像。圖 6 展示了超景深模式開啟前和開啟后的圖像對比。
 


超景深模式開啟前


超景深模式開啟后

  超景深圖像可以滿足大景深成像的應(yīng)用場景,比如金屬、水泥等材質(zhì)的拉伸斷口這類縱深較大的樣品成像及分析(圖 8),獲得超景深圖像可以使研究人員輕松看到此類樣品的全部細(xì)節(jié)。
 


圖 8 超景深使用場景 (左:復(fù)雜形狀截面;右:多種材料拉伸斷口)

來源:復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
聯(lián)系電話:400-857-8882
E-mail:cici.yang@phenom-china.com

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