二次離子質(zhì)譜法是一種高效的分析技術(shù),利用化合物的離子化過程及其質(zhì)量分析,以確定待測化合物的分子量、分子式和結(jié)構(gòu)特征。質(zhì)譜儀作為該方法的重要組成部分,通過將離子的質(zhì)量進(jìn)行有效分離,并依據(jù)電荷與質(zhì)量比率輸出至檢測器,在此被探測并轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號。
簡介
在質(zhì)譜分析中,有三種常見的質(zhì)譜儀離子分析器可用于離子的分離。
四極桿質(zhì)譜儀
飛行時間質(zhì)譜儀
磁扇形質(zhì)量分析儀
四極桿質(zhì)譜儀
直流偏壓會使所有帶電分子加速并遠(yuǎn)離中心線,其速度與它們的電荷與質(zhì)量比成正比。當(dāng)這些分子的軌跡偏離過大時,它們將撞擊金屬棒或容器的側(cè)壁并被吸收。因此,直流偏壓的作用類似于質(zhì)譜儀中的磁場B,可以調(diào)節(jié)以使特定電荷與質(zhì)量比的分子有效地撞擊檢測器。
兩個相互垂直的正弦電場,其夾角為90度,相位差亦為90度,將產(chǎn)生一個隨時間振蕩的電場,形成一個圓形波動。因此,當(dāng)帶電粒子向下飛向探測器時,它們將沿著螺旋軌跡運動,螺旋的直徑由分子的電荷與質(zhì)量比以及電場的頻率和強度所決定。通過結(jié)合直流偏置與旋轉(zhuǎn)電場,使得帶電粒子能夠沿著彎曲的螺旋軌跡飛行。通過確定彎曲螺旋的峰值與四極場結(jié)束時探測器的位置時間一致,可獲得對分子電荷與質(zhì)量比的ji高選擇性。
飛行時間質(zhì)譜儀
TOF分析儀通過時間分離離子,而不依賴于電場或磁場。從宏觀角度來看,TOF與色譜法相似,但不同于傳統(tǒng)的固定相和流動相,其分離機制基于離子的動能和速度。
同種電荷的離子具有相同的動能;在飛行管中,離子的動能等于其從離子源發(fā)射時所具備的動能。
飛行時間是指離子從飛行管一端到達(dá)另一端所需的時間:
L代表飛行管長度
v代表離子速度
將方程1代入方程2中的動能項,可得到飛行時間方程:
在分析過程中,我們保持離子源電壓V和管子長度L不變,這可以用來說明飛行時間與電荷質(zhì)量比的平方根成正比。
不幸的是,在較高的質(zhì)量數(shù)下,分辨率的實現(xiàn)變得相對困難,因為飛行時間延長。此外,并非所有具有相同質(zhì)荷比的離子在較高質(zhì)量數(shù)條件下都能達(dá)到理想的TOF速度。為了解決這一問題,通常會在分析儀中引入反射器。反射器由一系列置于飛行管末端的高電壓環(huán)形電極構(gòu)成。當(dāng)離子進(jìn)入反射器時,由于施加了高電壓,它們將朝相反方向進(jìn)行反射。通過縮小單個質(zhì)荷比所對應(yīng)的飛行時間寬帶范圍,反射器顯著提高了分辨率。速度較快的離子進(jìn)入反射器的距離更遠(yuǎn),速度較慢的離子進(jìn)入反射器的距離較短。因此,相同質(zhì)荷比下的慢速和快速離子能夠同時到達(dá)檢測器,從而減少輸出信號帶寬。
圖3. 反射圖及反射器圖片
附著于反射器飛行管(左側(cè))的離子鏡(右側(cè))。施加在金屬板堆棧上的電壓將產(chǎn)生反射離子,返回至飛行管的電場。在此特定設(shè)計中,鏡電極之間的間隙很大,這可能導(dǎo)致由于包裹真空管的金屬表面靠近而引起鏡內(nèi)電場的扭曲。(來源:維基百科)
磁扇形質(zhì)量分析儀
與前述的飛行時間(TOF)分析儀相似,磁性扇區(qū)分析儀中,離子通過飛行管被加速,并依據(jù)其電荷與質(zhì)量比進(jìn)行分離。磁性扇區(qū)分析儀與TOF的主要區(qū)別在于,它利用磁場對離子進(jìn)行分離。當(dāng)帶電粒子進(jìn)入磁場時,其運動軌跡會沿著施加磁場的垂直方向偏轉(zhuǎn)至特定的圓形軌道。在磁場中,離子受到兩個相等的力的作用:即磁場力和向心力。
接下來,我們可以對上述方程進(jìn)行重新排列,以得出以下結(jié)果:
若將該方程代入動能公式中:
基本上,具有特定質(zhì)荷比(m/z)的離子將展現(xiàn)出獨te的路徑半徑。在保持加速區(qū)域的磁場強度B和電壓差V不變的情況下,可以精確確定該半徑。當(dāng)類似的離子穿過磁場時,它們會被偏轉(zhuǎn)至相同角度,并沿著一致的軌跡行進(jìn)。那些未被選中的離子,將因與飛行管兩側(cè)發(fā)生碰撞或無法通過狹縫到達(dá)檢測器而被排除。磁性扇形分析器用于質(zhì)量聚焦,其功能在于實現(xiàn)角向分散。