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利用 ICP-MS 評估水樣中鍶雙電荷對鈣的影響

瀏覽次數(shù):4370 發(fā)布日期:2019-1-14  來源:本站 僅供參考,謝絕轉(zhuǎn)載,否則責(zé)任自負(fù)

利用 ICP-MS 檢測痕量鈣(Ca) 一直是一個難點, 由于 Ca 自然豐度最高的同位素(96.9%) 為 40Ca, 與 40Ar 為同質(zhì)異位素,使用常規(guī)方法無法測定。 所以, 通常對 Ca 進行檢測的標(biāo)準(zhǔn)方法中推薦的質(zhì)量數(shù), U.S. EPA 200.8 43; 國內(nèi) HJ 700-201444, 測定下限為 26.4 μg/L。 而 43Ca 44Ca 的自然豐度分別僅有 0.14% 2.1%, 在測定過程中由于靈敏度較低, 且干擾消除不完全, 容易導(dǎo)致檢出限偏高、 結(jié)果精密度差等缺點。

按照 U.S. EPA 200.8 HJ 700-2014 標(biāo)準(zhǔn), 43Ca 44Ca 的測定分別使用標(biāo)準(zhǔn)模式和碰撞(KED) 模式。 參數(shù)見圖 1。 而對自來水、 飲用水的檢測結(jié)果通常較標(biāo)準(zhǔn)值偏高, 這是由于樣品中通常含有一定量(190 μg/L 左右) 的鍶(Sr) , 而 Sr 的第二電離能為 11.03 eV, 容易形成 86Sr++ 88Sr++ 雙電荷, 會對 43Ca44Ca 產(chǎn)生質(zhì)譜干擾, 且很難去除。

NexION 2000 ICP-MS 的通用池技術(shù)可以使用各種高純高反應(yīng)性氣體對質(zhì)譜干擾進行去除,對于 40Ca,可以使用100%純氨氣(第一電離能 10.16 eV) 對 40Ar(第一電離能 15.76 eV) 進行去除,獲得亞 ppb 級的檢出限。 這得益于 NexION 2000 可以調(diào)諧和優(yōu)化通用池四極桿的 RPq 參數(shù), 使得高反應(yīng)性氣體的各種副產(chǎn)物干擾被徹底去除。

為了表征 Sr 雙電荷對于 Ca 檢測結(jié)果的影響, 利用 NexION2000 ICP-MS 10 mg/L Sr 標(biāo)準(zhǔn)溶液進行檢測, 結(jié)果見圖 2。可見 43Ca44CaSr雙電荷的干擾下,檢測結(jié)果顯著偏離真值,而 40Ca 的檢測結(jié)果接近真值, 且完全可以滿足 HJ 700-2014 要求的檢測下限。 利用氨氣作反應(yīng)氣測定樣品中的 40Ca, 完全避開了 Sr 元素的雙電荷質(zhì)譜干擾, 再也不需要回避混標(biāo)或樣品中Sr 的存在, 準(zhǔn)確快捷地得出 Ca 的檢測結(jié)果。

 

來源:瑞孚迪(Revvity)
聯(lián)系電話:021-60645803
E-mail:gc.marcom@revvity.com

標(biāo)簽: ICP-MS;鍶雙電荷;PE
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