飛納電鏡邀您參與中國有色金屬4期優(yōu)秀青年學者論壇

為了探索新型金屬材料與材料加工過程設計的基礎理論與技術前沿，加強學科的交叉融合，促進有色金屬材料與材料加工學科年輕人才成長與交流，拓寬有色金屬青年人才國際視野，中國有色金屬學會青年工作委員會、中北大學和太原理工大學定于 2019 年 8 月 4 - 6 日在山西省太原市召開 “中國有色金屬第 4 期優(yōu)秀青年學者論壇”。

時間：2019 年 8 月 4 日 - 6 日
地點：太原黃河京都大酒店

四個分論壇

第一論壇：材料設計與成型計算模擬青年學者論壇
第二論壇：輕合金設計及加工青年學者論壇
第三論壇：非晶與高熵合金青年學者論壇
第四論壇：增材制造與粉末冶金青年學者論壇

掃描電鏡表征合金材料

背散射探頭成像可以顯示出材料的成分襯度，但背散射探頭屬于被動信號采集，所以背散射成像對燈絲亮度有著極高的要求。只有在燈絲亮度足夠高的情況下才能獲取良好的背散射成像照片。

圖1. 為金相樣品的背散射成像。沿著箭頭方向從內到外可以看到 4 種不同的成分襯度，且分界線非常明顯。代表這 4 個位置元素含量各不相同，并且沿著箭頭方向，重元素占比越來越低。

圖 1 金相樣品背散射成像

圖 2 汽車緊固件失效分析：沿晶斷裂組織 

二次電子圖像                                               背散射電子圖像

圖 3 鍍層分析

氧化鈦涂層截面                                            鎂合金金相分析

圖 4 使用飛納電鏡軟件 “超大視野自動全景拼圖” 進行缺陷檢查。

粉末冶金

使用掃描電鏡檢測粉末的形貌、大小、均勻性等。

顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)

快速、易用和超清晰成像質量的飛納臺式掃描電鏡，加上顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能，為用戶檢驗、分析各種各樣的顆粒、粉末樣品創(chuàng)造了一個強大工具。

飛納電鏡將出席本次會議，期待與各位參會學者交流。