2022年12月20日蔡司中國(guó)新一代場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡Sigma系列新品線上發(fā)布會(huì)成功舉辦。為滿足新能源,新材料,電子半導(dǎo)體和集成電路,深海,太空,生命科學(xué),考古等熱門領(lǐng)域的高分辨率成像和全面分析的需求,蔡司全新推出的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡Sigma 360和Sigma 560,傳承GEMINI電子鏡筒的優(yōu)良性能,將會(huì)是材料研究、生命科學(xué)和工業(yè)檢測(cè)等領(lǐng)域的 “全能多面手”。蔡司致力于和用戶一起攜手共進(jìn),推動(dòng)科學(xué)發(fā)展與行業(yè)進(jìn)步。
▲ 蔡司全新場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡Sigma 360與Sigma 560
蔡司中國(guó)顯微鏡事業(yè)部材料科研負(fù)責(zé)人黃銘剛先生出席線上發(fā)布會(huì)并為全新Sigma系列揭幕。他提到:“作為蔡司集團(tuán)歷史最悠久的部門之一,蔡司顯微鏡秉承創(chuàng)新的基因,持續(xù)利用前沿技術(shù),為不同行業(yè)的客戶提供跨尺度、多模態(tài)的顯微成像分析解決方案。我們堅(jiān)信全新的Sigma系列必將助力客戶持續(xù)成功。”
▲ 黃銘剛先生致辭并為新品揭幕
蔡司顯微鏡材料科學(xué)全球市場(chǎng)總監(jiān)Benjamin Tordoff博士也受邀在發(fā)布會(huì)中致辭并介紹了全新Sigma系列的關(guān)鍵技術(shù)特點(diǎn),尤其是低電壓性能方面得到了極大提升。
▲ Benjamin Tordoff博士介紹產(chǎn)品特點(diǎn)
隨后,蔡司中國(guó)顯微鏡應(yīng)用經(jīng)理秦艷女士詳細(xì)介紹了全新Sigma系列的前沿技術(shù)。高分辨、全分析、多擴(kuò)展、強(qiáng)智能、廣應(yīng)用,新一代場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡Sigma系列與您一同開啟納米分析新紀(jì)元!
全新Sigma系列亮點(diǎn):
高分辨
GEMINI電子光學(xué)技術(shù)再度升級(jí),分辨率進(jìn)一步提升,低電壓效果更加優(yōu)秀,讓您的高分辨成像工作更加得心應(yīng)手。
低電壓高分辨成像結(jié)果(Al2O3顆粒,1kV)
低電壓高分辨成像結(jié)果(氧化鋯&氧化鐵復(fù)合材料,1kV)
低電壓高分辨成像結(jié)果(納米金顆粒,1kV)
全分析
可配置多種分析手段,獲取樣品全面信息。
✓ 全新NanoVP Lite保證低真空EDS分析精度
✓ 電子通道襯度成像(ECCI)分析樣品內(nèi)部缺陷
✓ 無漏磁物鏡搭配EBSD,實(shí)現(xiàn)高精度晶體取向分析
✓ Raman-SEM聯(lián)用系統(tǒng),輕松實(shí)現(xiàn)高精度原位拉曼分析
不銹鋼ECCI成像
Si/Al界面的EDS線掃描
鋁合金斷口EBSD
鐵礦石Raman相鑒定
多擴(kuò)展
超強(qiáng)的擴(kuò)展兼容性,為您拓展電鏡應(yīng)用新維度。它可以是您的全自動(dòng)原位實(shí)驗(yàn)平臺(tái),可以是您的冷凍傳輸分析系統(tǒng),也可以是您的高精度電子束直寫(EBL)平臺(tái),還可以是您的原位電化學(xué)分析工作站,等等。
鋼鐵樣品800°C
原位自動(dòng)EBSD
EBL制備GaN
HEMT器件
含油巖心
冷凍成像 1kV
強(qiáng)智能
智能軟件不能少,帶您解鎖掃描電鏡新玩法。SmartSEM Touch定制軟件為您帶來觸屏式、流程化的拍攝與自動(dòng)拼圖體驗(yàn),操作高效又安全;ZEN軟件讓圖像處理等量化分析工作更加自動(dòng)、智能;Connect模塊可輕松實(shí)現(xiàn)光電關(guān)聯(lián),一站式解決您的定位難題。
簡(jiǎn)潔的SmartSEM Touch操作界面
顆粒分析
高級(jí)測(cè)量滿足多種測(cè)量需求
層厚測(cè)量
廣應(yīng)用
廣泛的應(yīng)用適用性,無論是材料科學(xué)研究、工業(yè)檢測(cè),還是生命科學(xué)領(lǐng)域;無論是金屬、聚合物,還是陶瓷、礦石;無論是不導(dǎo)電樣品、電子束敏感樣品,還是磁性樣品;無論是半導(dǎo)體材料、鋰電池材料,還是生物樣品,它行行全覆蓋,樣樣都拿手。
磁性材料
含Ni磁性樣品,1kV成像
強(qiáng)磁性釹鐵硼磁鐵
未消磁處理,10kV成像
納米材料
BN 納米片,1kV成像
SiO2小球包覆PS核殼結(jié)構(gòu)
1kV背散射成像
半導(dǎo)體材料
InP襯底材料的量子阱結(jié)構(gòu)
1kV成像
光柵截面傾斜觀察
1kV成像
樣品來自北京至格科技
生命科學(xué)
苔蘚蟲的高倍背散射成像
樹突狀細(xì)胞的高分辨率超微三維結(jié)構(gòu)
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