應(yīng)用 | 帶一體化環(huán)形光或同軸照明系統(tǒng)的 Leica DVM6 應(yīng)用示例

DVM6 的多種照明技術(shù)

目前最先進(jìn)的數(shù)碼顯微鏡，例如，Leica DVM6，運(yùn)用了通用照明系統(tǒng)，該系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)多種反差觀察法，這對檢測、質(zhì)控和失效分析是非常有用的。這些反差觀察法能夠令用戶更輕松、更快速地檢測產(chǎn)品或部件表面上的瑕疵或缺陷。本文將列舉示例，探討現(xiàn)代化數(shù)碼顯微鏡是如何令檢測、質(zhì)控和失效分析等工作更高效的。

利用 Leica DVM6 通過不同照明反差觀察法，獲取鍍錫銅引線框架修切沿口（橫截面）的不同圖像（簡略插圖）：A) 全環(huán)形光；B) 起偏鏡開啟時(shí)的同軸光源；C) 浮雕反差法和起偏鏡開啟時(shí)的同軸光源；D) 起偏鏡關(guān)閉時(shí)的同軸光源。上述圖像展示了錫涂抹大部分銅表面的不同反差情況，針孔破裂且能看到銅材料的底部除外。

利用 Leica DVM6 通過不同的照明反差觀察法，記錄金屬浮雕銅版紙圖像（簡略插圖）：A) 全環(huán)形光；B) 1/4 環(huán)形光；C) 起偏鏡開啟時(shí)的同軸光源；D) 起偏鏡關(guān)閉時(shí)的同軸光源。1/4 環(huán)形光（圖像 B）和起偏鏡開啟時(shí)的同軸光源（圖像 C）能夠增強(qiáng)浮雕效果，而起偏鏡關(guān)閉時(shí)的同軸光源（圖像 D）則能夠突出瑕疵或污染。

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在工業(yè)化生產(chǎn)中，加快檢測和質(zhì)控程序的速度是非常關(guān)鍵的。如果通過不同類型的照明和反差觀察法增強(qiáng)產(chǎn)品的外觀顯示，即可輕松發(fā)現(xiàn)或檢測出所關(guān)注的產(chǎn)品特征，從而縮短檢測和試驗(yàn)耗時(shí)。數(shù)碼顯微鏡領(lǐng)域的最新發(fā)展技術(shù)，已經(jīng)利用照明反差觀察法，引領(lǐng)檢測和質(zhì)控工作走上了實(shí)用、高效之路。

本文提供德語版本：Effizientere Inspektion und Qualitätskontrolle durch vielseitige Beleuchtungsvarianten in der Digitalmikroskopie，注冊后，即可下載英文或德文版的免費(fèi)報(bào)告