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sCMOS相機(jī)丨Dhyana XF95碳K-edge X射線疊層成像

瀏覽次數(shù):107 發(fā)布日期:2023-4-24  來(lái)源:本站 僅供參考,謝絕轉(zhuǎn)載,否則責(zé)任自負(fù)
碳K-edge是碳原子的X射線吸收邊緣,其在軟X射線光譜學(xué)中具有重要的應(yīng)用;谔糑-edge的X射線掃描透射顯微成像(STXM)的研究已經(jīng)相當(dāng)廣泛,但基于碳K-edge X射線疊層成像(Ptychography)的研究卻鮮有報(bào)道。

2022年,法國(guó)SOLEIL同步輻射中心的相關(guān)研究人員利用鑫圖軟X射線相機(jī)實(shí)現(xiàn)了對(duì)碳K-edge疊層成像、光譜和線性二向色的拼圖測(cè)量,其研究結(jié)果驗(yàn)證了碳K-edge疊層成像技術(shù)在空間分辨率和圖像質(zhì)量方面的優(yōu)勢(shì),以及應(yīng)用于高分辨率光譜顯微術(shù)的可行性。


圖:Carbon Nanotube (CNT) 樣品的碳K-edge光譜和 X射線線性二向色 (X-ray linear dichroic ,XLD) 成像。aCNT水平(紅色)和垂直(藍(lán)色)取向的C1s光譜,使用固定的線性垂直 (LV) 偏振從疊層堆棧重建得到,該堆棧測(cè)量使用1.0μm離焦斑點(diǎn)(282-294 eV,0.5 eV步進(jìn))。垂直CNT的光譜強(qiáng)度已調(diào)整為具有與水平CNT相同的OD 293 –OD 282值。b、c來(lái)自CNT樣品的OD圖像,分別從使用線性垂直(LV)和線性水平(LH)偏振測(cè)量的1.0μm離焦疊層重建幅度圖像推導(dǎo)而來(lái),測(cè)量點(diǎn)在285.2 eV處。光密度 (OD) 強(qiáng)度比例適用于 ( b ) 和 ( c )。d X 射線線性二向色 (XLD) 圖像 (LV–LH),從相應(yīng)的疊層圖像 ( b ) 和 ( c ) 中獲得。e XLD圖像 (LV–LH) ,從使用25nm FZP記錄的相同區(qū)域的STXM圖像推導(dǎo)而來(lái)。( d ) 和 ( e )中的強(qiáng)度比例為 ΔOD。所有圖像中的比例尺均為 500 nm。

Dhyana XF95應(yīng)用優(yōu)勢(shì)分析

疊層成像是一種需要基于高速檢測(cè)器、大量數(shù)據(jù)采集和計(jì)算能力構(gòu)建的成像技術(shù),具有大視場(chǎng)、高分辨率的成像優(yōu)勢(shì)。隨著第三代、第四代同步輻射光源技術(shù)的發(fā)展,X射線顯微疊層成像技術(shù)在過去十年中發(fā)展迅速,但由于目前軟X射線的探測(cè)器大多數(shù)使用的是背照式CCD,圖像傳輸速度很慢,且大多數(shù)科學(xué)CCD相機(jī)對(duì)能量低于500eV 的靈敏度有限,一定程度上限制了這一技術(shù)的發(fā)展。

鑫圖Dhyana XF95采用的新一代無(wú)抗反射鍍膜芯片,在80-1000eV區(qū)間的量子效率整體超過了90%,甚至在部分波段達(dá)到了近乎100%的水平,且相機(jī)在全分辨率(2048 × 2048)模式下的傳輸速度可以達(dá)到24幀/秒,是傳統(tǒng)背照式CCD的數(shù)十倍,完全可作為背照式CCD軟X射線疊層成像的替代檢測(cè)器,應(yīng)用于以往受限的各類領(lǐng)域中。


參考文獻(xiàn)
Mille, N., Yuan, H., Vijayakumar, J. et al. Ptychography at the carbon K-edge. Commun Mater 3, 8 (2022). https://doi.org/10.1038/s43246-022-00232-8

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