直接分析法和離子淌度TOF MS在環(huán)境分析中的適用性研究

Michael McCullagh and Ramesh Rao
沃特世公司（英國曼徹斯特）

簡介
自第一臺市售離子淌度質(zhì)譜儀（SYNAPT HDMS，沃特世公司）面世以來，人們對離子淌度分離的關(guān)注持續(xù)升溫，該質(zhì)譜儀以行波方式進(jìn)行離子淌度分離（IMS）。隨著技術(shù)的進(jìn)步，Waters® SYNAPT G2-S引進(jìn)了改良的檢測系統(tǒng)，從而提高了離子淌度分離度，改善了檢測靈敏度（StepWave）。各方面技術(shù)的不斷進(jìn)步使得分析化學(xué)家們可以利用離子淌度光譜法結(jié)合質(zhì)譜法來應(yīng)對他們所面臨的分析難題。

本應(yīng)用紀(jì)要對直接分析法（DA）結(jié)合IMS/MS的應(yīng)用進(jìn)行了研究，其中目標(biāo)樣品以直接注入的方式進(jìn)樣并展示出了IMS的優(yōu)勢。離子淌度可與多種直接分析技術(shù)相結(jié)合，例如ASAP、DART和DESI，以通過運(yùn)用離子淌度技術(shù)實(shí)現(xiàn)分離。

沃特世解決方案
SYNAPT® G2-S質(zhì)譜儀
High Definition Mass Spectrometry™（HDMS™）
StepWave™離子傳輸設(shè)備
DriftScope™淌度軟件

應(yīng)用優(yōu)勢
■ 將直接分析法與離子淌度產(chǎn)生的正交分離相結(jié)合可拓展直接分析技術(shù)的適用范圍。
■ 無需采用色譜法即可實(shí)現(xiàn)與基質(zhì)干擾物的分離。
■ 常規(guī)質(zhì)量測量誤差<2 ppm，極大地提高了元素分配組成的正確性和結(jié)構(gòu)解析數(shù)據(jù)的可靠性。
■ 利用離子淌度技術(shù)分離同分異構(gòu)體，并且達(dá)到淌度分離后可生成相應(yīng)的單個MS譜圖和MS/MS譜圖。
■ CO₂作為遷移室氣體能夠提高離子淌度分離度。

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