飛納掃描電鏡在顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)的應(yīng)用

飛納掃描電鏡以卓越的微觀檢測能力被大家熟知，簡單的操作、方便的測樣、快速的成像以及友好的界面為飛納帶來了不少粉絲。其實(shí)，飛納電鏡除了強(qiáng)大的微觀檢測能力之外，它也有許多實(shí)用的可拓展功能。飛納電鏡的這些“三頭六臂”讓客戶在進(jìn)行微觀分析時(shí)如虎添翼，今天就來談一談其中被很多人關(guān)注的 顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)。

 

   

 

在檢測粉末樣品時(shí)，除了形貌觀察，我們有時(shí)還有統(tǒng)計(jì)其粒徑、圓度等的需求。如果我們依靠人工手動(dòng)測量統(tǒng)計(jì)，會(huì)耗費(fèi)很大的人力和時(shí)間。此時(shí)，如果有一款軟件能基于微觀形貌自動(dòng)統(tǒng)計(jì)顆粒的具體信息，就會(huì)方便很多。

 

客戶有需求，飛納有方案 —— 顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)應(yīng)運(yùn)而生

 

 

  

 

原理

 

掃描電鏡只能進(jìn)行“黑白”成像，而顆粒與周圍背景 “亮度” 不一致，根據(jù)這一差異，系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)識(shí)別到顆粒。

 

檢測方式

 

可以根據(jù)客戶不同檢測需求進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，比如融合顆粒的識(shí)別設(shè)置（圖1）、覆蓋顆粒是否統(tǒng)計(jì)（圖2）、不完整顆粒是否統(tǒng)計(jì)（圖3）、最小識(shí)別顆粒尺寸（圖4）等等。

 

圖 1

 

圖 2

 

圖 3

 

圖 4

 

統(tǒng)計(jì)結(jié)果

 

顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)會(huì)把識(shí)別到的顆粒一一列出來，操作員可以根據(jù)需求可以刪除不滿意顆粒。其次，系統(tǒng)會(huì)把每一個(gè)顆粒的具體信息統(tǒng)計(jì)出來，比如面積、等效圓直徑、長軸長度、短軸長度等，全面地了解樣品。

 

 

當(dāng)獲得了滿意的統(tǒng)計(jì)結(jié)果之后，還可以根據(jù)需要生成散點(diǎn)圖、折線圖等統(tǒng)計(jì)圖表（橫縱坐標(biāo)自主確定），并自動(dòng)生成統(tǒng)計(jì)報(bào)告，顆粒統(tǒng)計(jì)結(jié)果一目了然。